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针对半导体封装测试领域,恒麟(INHEXIN)提供全套的失效性分析实验室搭建方案,用于芯片测试环节以及总体集成封装工艺的生产过程测试和产品失效测试。
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微光显微镜EMMI(P-100)
微光显微镜EMMI(...
微光显微镜EMMI(P-100)
EMMI测试系统又名光发射显微镜,是器件失效分析中漏电定位的重要工具。
EMMI测试系统又名光发射显微镜...
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SEMICAPS SOM 1100 微光显微镜
SEMICAPS S...
SEMICAPS SOM 1100 微光显微镜
漏电定位手段有三种 1、侦测光子(EMMI) 2、激光刺激侦测阻抗变化(TIVA&VBA) 3、侦测热(Thermal)
漏电定位手段有三种 ...
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ABT系列 全自动多功能推拉力测试机
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自带桌面型减振平台系统,采用精密微孔可变阻尼技术,具有高性能空气减振及自动水平调节能力,大幅度提升ABT系统的环境适应能力和抗低频振动干扰能力,确保ABT系统的高精密度检测性能。 适...
自带桌面型减振平台系统,采用精密...
自带桌面型减振平台系统,采用精密微孔可变阻尼技术,具有高性能空气减振及自动水平调节能力,大幅度提升A...
MFM系列多功能微焊点强度测试仪
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MFM系列多功能剪切力测试仪是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器,具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点。适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测...
MFM系列多功能剪切力测试仪是用...
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SU7000 超高分辨肖特基场发射扫描电镜
SU7000 超高分...
SU7000 超高分辨肖特基场发射扫描电镜
SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像,而 且还可以同时接收多种信号。此外,它还具备大视野观 察、In-Situ观察等FE-SEM的众多卓越性能。 SU7000是一台实现了信息获取...
SU7000不仅可以在低加速电压...
SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像,而 且还可以同时接收多种信号。此外,它还具备大视野...
SU5000 热场式场发射扫描电镜
SU5000 热场式...
SU5000 热场式场发射扫描电镜
操作高效便捷 创新的“EM Wizard”界面更加直观,仅需要“点击” 即可得到完美的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新 水平。
操作高效便捷 创新的“...
操作高效便捷 创新的“EM Wizard”界面更加直观,仅需要“点击” 即可得到完美的图像...
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